电子元器件失效分析
发布：2023-03-28 19:50，更新：2024-05-02 10:00
电子元器件失效分析，根据失效模式和现象，通过分析和验证，模拟重现失效的现象，找出失效的原因，挖掘出失效的机理的活动。在提高产品质量，技术开发、改进，产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义。其方法分为有损分析，无损分析，物理分析，化学分析等。
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