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单位新闻
电子元器件失效分析
发布时间: 2023-03-28 19:50 更新时间: 2024-12-18 10:00

电子元器件失效分析,根据失效模式和现象,通过分析和验证,模拟重现失效的现象,找出失效的原因,挖掘出失效的机理的活动。在提高产品质量,技术开发、改进,产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义。其方法分为有损分析,无损分析,物理分析,化学分析等。

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