GB5080.7-86《设备可靠性试验平均无故障时间验证试验方案》

GJB899A-2009《可靠性鉴定与验收试验》

GJB367A-2001《军用通信设备通用规范》

GB/T 37963-2019 电子设备可靠性预计模型及数据手册

（1）加速寿命试验 (Accelerated Life Testing)；

（2）执行寿命试验的目的在于评估产品在既定环境下之使用寿命；

（3）常規试验耗時较长,且需投入大量的金钱,而产品可靠性资讯又不能及时获得并加以改善；

（4）可在实验室时以加速寿命试验的方法,在可接受的试验时间里评估产品的使用寿命；

（5）是在物理与时间基础上,加速产品的劣化肇因,以较短的时间试验来推定产品在正常使用状态的寿命或失效率.但基本条件是不能破坏原有设计特性；

（6）一般情況下, 加速寿命试验考虑的三个要素是环境应力,试验样本数和试验时间；

（7）一般电子和工控业的零件可靠性模式及加速模式几乎都可以从美軍规范或相关标准查得,也可自行试验分析,获得其数学经验公式；

（8）如果溫度是产品唯一的加速因素,則可采用阿氏模型(Arrhenius Model),此模式最为常用；

（9）引进溫度以外的应力,如湿度,电压,机械应力等,則为爱玲模型(Eyring Model),此种模式适用的产品包括电灯,液晶显示元件,电容器等；

（10）反乘冪法則(Inverse Power Law)适用于金属和非金属材料,如轴承和电子装备等；

（11）复合模式(Combination Model)适用于同時考虑溫度与电压做为环境应力的电子材料(如电容如下式为电解电容器寿命计算公式) 一般情況下,主动电子零件完全适用阿氏模型,而电子和工控类成品也可适用阿氏模型,原因是成品灯的失效模式是由大部分主动式电子零件所构成.因此,阿氏模型广泛应用于电子,工控产品行业。

MTBF实验方式主要有三种：

◆全寿命试验

全寿命试验要求所有样品都在试验中最终都失效，只需要采用简单的算术平均值就可以计算出MTBF。

◆序贯截尾试验

针对试验对象的特点，在一批数量为N的产品中，任意抽取数量为n的样品，观察发生r个故障出现时的时间，并计算总的测试时间。发生一次故障，就进行一次判决。

◆定数、定时截尾试验。

定时截尾试验指试验到规定的时间终止。

定数截尾试验指试验到出现规定的故障数或失效数时而终止。

常温下的故障及寿命的统计耗时耗力。为方便估算产品寿命，通常会进行批次性产品抽样，作加速寿命实验。不同种类的产品，MTBF的计算方式也不尽相同，常用的加速模式有以下几种：

阿氏模型(Arrhenius Model):如果温度是产品唯一的加速因素，则可采用阿氏模型，一般情況下，电子零件完全适用阿氏模型，而电子和通讯类成品也可适用阿氏模型，原因是成品类的失效模式是由大部分电子零件所构成,因此，阿氏模型，广泛用于电子与通讯行业。

爱玲模型(Eyring Model):如果引进温度以外的应力，如湿度，电压，机械应力等，则为爱玲模型。产品包括电灯，液晶显示元件，电容器等应用此模式。

反乘幕法则(Inverse Power Law):适用于金属和非金属材料，轴承和电子装备等。复合模式(Combination?Model):适用于同时考虑温度与电压作为环境应力的电子材料如电容。

与MTTF(平均故障前时间)不同，MTTF指的是产品发生故障前已经使用的时间，不包含维修时间，而MTBF则包含了维修时间。而MTTR包含了获得配件的时间，维修团队的响应时间，记录所有任务的时间，还有将设备重新投入使用的时间。

MTBF这个指标与产品的可靠性相关，MTBF越高越好，在寿命周期内的故障和维修次数也就越低。

1、对于高频度故障零件的重点对策及延长零件寿命的技术改良依据。

2、零件寿命周期的推定及最合适修理计划的研究。

3、有关点检对象、项目的先定与点检基准的设定、改良。

4、设定备品、备件基准、机械、电气零件的各项常备项目及基本库存数量应由MTBF的记录分析来判断，使其库存达到最经济的状况。